Fonte: Resumos. Nome do evento: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
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ABNT
GOMES, Juliano de Andrade et al. Estudo das propriedades estruturais em nanoferritas do tipo espinélio utilizando o refinamento de rietveld dos dados de difração de raios x obtidos no síncrotron. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2005. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0954-2.pdf. Acesso em: 16 maio 2024.APA
Gomes, J. de A., Depeyrot, J., Silva, G. J. da, Tourinho, F. A., Sousa, M. H., Itri, R., et al. (2005). Estudo das propriedades estruturais em nanoferritas do tipo espinélio utilizando o refinamento de rietveld dos dados de difração de raios x obtidos no síncrotron. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0954-2.pdfNLM
Gomes J de A, Depeyrot J, Silva GJ da, Tourinho FA, Sousa MH, Itri R, Mestnik Filho J, Moreira AFL. Estudo das propriedades estruturais em nanoferritas do tipo espinélio utilizando o refinamento de rietveld dos dados de difração de raios x obtidos no síncrotron [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 maio 16 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0954-2.pdfVancouver
Gomes J de A, Depeyrot J, Silva GJ da, Tourinho FA, Sousa MH, Itri R, Mestnik Filho J, Moreira AFL. Estudo das propriedades estruturais em nanoferritas do tipo espinélio utilizando o refinamento de rietveld dos dados de difração de raios x obtidos no síncrotron [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 maio 16 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0954-2.pdf